Análisis de difracción de rayos x (XRD)

El equipo de difracción de rayos x de vanguardia, de Washington Mills, identifica la estructura del cristal de muchos materiales sólidos diferentes. Nuestros técnicos de laboratorio son expertos capacitados en la caracterización de materiales y especializados en el uso de técnicas XRD para realizar análisis no destructivos de sólidos cristalinos, materiales orgánicos e inorgánicos, y granos y polvos. Nuestros servicios de difracción de rayos x (XRD) tienen precios competitivos y podemos proporcionar respuestas rápidas para sus muestras. Comuníquese con nosotros si desea obtener más información sobre nuestros servicios XRD y capacidades.

Aplicaciones de difracción de rayos x (XRD):

• Análisis no destructivos de un amplio rango de materiales, en que se incluyen: Suelos • Cerámica • Piedra • Pigmentos • Partículas aerotransportadas • Cemento • Acero • Farmacéutica • Vidrio • Textiles • Minerales • Pinturas • Arcillas • Cosméticos • Rocas • Productos químicos • Polímeros • Plásticos • Semiconductores • Polvo • Muchos más materiales.

Capacidades del análisis de difracción de rayos x (XRD):

• Análisis de fase de componentes orgánicos e inorgánicos e información de la estructura de cristal y composición química del material.
• Difractómetro automatizado para la caracterización de la fase cristalina. Las capacidades cualitativas y cuantitativas nos permiten determinar directamente los compuestos cristalinos y los elementos libres en un amplio rango de muestras que pasan por nuestro laboratorio analítico.
• La difracción de rayos x (XRD) es un análisis no destructivo.
• Investigaciones de tensión residual.
• Cambiador de muestras automático, capaz de analizar 35 muestras en una noche, llevar a cabo una búsqueda de niveles máximos y proporcionar impresiones y perfiles computacionales.
• Base de datos del Comité Conjunto de Estándares de Difracción (JCPDS, por sus siglas en inglés) que contiene aproximadamente 35.000 compuestos cristalinos inorgánicos y 10.000 compuestos cristalinos orgánicos para la identificación de la fase asistida por computadora.
• Caracterización de compuestos químicos simples a materiales muy complejos de solución sólida (aleaciones) y minerales de silicato, como por ejemplo arcillas, feldespatos, micas, etc.
• Identificación positiva de asbesto en distintos materiales.
• Identificación de especímenes de fases múltiples que contienen hasta 10 componentes cristalinos
• Identificación de diversos poliformes (más de una estructura de cristal) de muchas sustancias, por ejemplo, SiO2 cristalino, cuarzo, cristobalita y tridimita.
• El límite de detección típico con análisis XRD es 0,5%
• Capaz de realizar análisis cuantitativos de la mayoría de las sustancias cristalinas, como la determinación de sílica no cristalina libre en muchos materiales refractarios y de cerámica, como Al2O3 (óxido de aluminio) en el óxido de aluminio.